姓名：陈寿宏

■主要研究方向：

集成电路测试、机器视觉与图像处理、神经网络与机器学习、计算机辅助测试

■教育经历：

2021年博士毕业于江苏大学机械电子工程专业

2006年硕士毕业于桂林电子测试计量技术及仪器专业

2003年本科毕业于桂林电子科技大学计算机科学与技术专业

■工作经历：

2006年7月以来在电子工程与自动化学院从事测控技术与仪器等专业教学、科研工作。

2021年9月以来担任电子工程与自动化学院实验中心主任。

■荣誉称号及奖励：

获得2023年度桂林电子科技大学优秀硕士学位论文研究生指导教师。

■学术论文：

在国内外学术刊物发表及录用论文50余篇，其中含第一作者SCI中科院一区论文4篇，参编《边界扫描测试技术》，并获实用新型专利5项。团队边界扫描测试相关研究成果已经在华为公司实现产业化。

[1]ShouhongChen, Zhentao Huang, Tao Wang, Xingna Hou, Jun Ma. (2024).Mixed-typewafer defect detection based on multi-branch feature enhancedresidual module. Expert Systems with Applications, 242,122795https://doi.org/10.1016/j.eswa.2023.122795(中科院一区)

[2]Chen,S., Liu, M., Hou, X., Zhu, Z., Huang, Z., & Wang, T. (2023).Wafer map defect pattern detection method based on improved attentionmechanism. Expert Systems with Applications, 230, 120544.https://doi.org/10.1016/j.eswa.2023.120544 (中科院一区)

[3]Chen,S., Huang, Z., Wang, T. et al. (2023) Wafer map defect recognitionbased on multi-scale feature fusion and attention spatial pyramidpooling. Journal of Intelligent Manufacturing.https://doi.org/10.1007/s10845-023-02231-z(中科院一区)

[4]Chen,S., Zhang, Y., Hou, X., Shang, Y., & Yang, P. (2022). Wafer mapfailure pattern recognition based on deep convolutional neuralnetwork. Expert Systems with Applications, 209, 118254.https://doi.org/10.1016/j.eswa.2022.118254(中科院一区)

[5]Chen,S., Zhang, Y., Yi, M., Shang, Y., & Yang, P. (2021). AIclassification of wafer map defect patterns by using dual-channelconvolutional neural network. Engineering Failure Analysis, 130,105756. https://doi.org/10.1016/j.engfailanal.2021.105756(中科院二区)

■科研项目：

主持广西教育厅科研项目和广西自动检测技术与仪器重点实验室项目等项目5项，并作为主要成员参与完成国家自然科学基金项目、广西科技开发项目、广西自然科学基金项目和各类省部级项目等多项。

■联系信息：

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